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  光切法顯微鏡 9J(JBQ)
顯微鏡 >> 顯微鏡 >> 測量顯微鏡.光切法顯微鏡

產品名稱:光切法顯微鏡
產品型號:9J(JBQ)

詢購熱線: 021-65730171

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本儀器是以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判斷別國家標準GB 1031-68所規定▽3-9級表面光潔度。

對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。

光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。

 

測量范圍不平度平均高度值

0.81.6微米

>1.66.3微米

>6.320微米

>2080微米

表面光潔度級別

9

87

65

43

所需物鏡

60N.A.0.55

30N.A.0.40

14N.A.0.20

7N.A.0.12

總放大倍數

510×

260×

120×

60×

物鏡組件工作距離

0.04mm

0.2mm

2.5mm

9.5mm

視場

0.3mm

0.6mm

1.3mm

2.5mm

攝影裝置放大倍數

6×

測量不平度范圍

0.880)微米

不平度寬度

用測微目鏡

0.7微米~2.5mm

 

用座標工作臺

0.0113mm

儀器重量

23kg

外形尺寸

180×290×470mm

 

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